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3360-D VLSI測試系統

更新時間:2024-11-10

簡要描述:

3360-D VLSI測試系統
主要特色:
?50 MHz 測試頻率
?32/64 個 I/O 通道
?8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
?彈性化硬體結構
?平行測試 : Z多 8 DUTs

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3360-D VLSI測試系統

主要特色:

  • 50 MHz 測試頻率
  • 32/64 個 I/O 通道
  • 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結構
  • 平行測試 : zui多 8 DUTs
  • Real Parallel Trim/Match 功能
  • 時序頻率測試單位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
  • 測試程式/pattern 轉換器 (V7, V50, SC312, J750)
  • Analog PE card 選配 (16 bits)
  • SCAN 測試 選配 (512M)
  • ALPG 測試 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援 (選配)
  • 人性化 Windows XP 操作環境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 即時pattern編輯器,含Fail pin/address顯示
  • 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.

 

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